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GIS法蘭漏氣帶壓修復(fù)

時(shí)間:2025-09-30 18:33來源:未知 作者:admin 點(diǎn)擊:


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泵

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SF6氣體是SF6斷路器重要的調(diào)試項(xiàng)目,也是SF6斷路器正常運(yùn)行的關(guān)鍵。對(duì)于運(yùn)行中的設(shè)備,一般利用密度繼電器對(duì)SF6氣體的泄漏實(shí)時(shí)監(jiān)測, 一旦壓力值迅速下降或出現(xiàn)報(bào)警信號(hào),則需要進(jìn)一步的對(duì)漏氣部位進(jìn)行查找,以求在最短的時(shí)間內(nèi)確定漏氣部位,為處理缺陷爭取時(shí)間。下面介紹一下常用的檢漏方法。

定性檢漏
定性檢漏在現(xiàn)場較實(shí)用,具體包括簡易定性檢漏、壓力下降法、分割定位法和局部蓄積法。
(1)簡易定性法。使用一般的檢漏儀,對(duì)所有組裝的密封面、管道連接處及其他懷疑的地方進(jìn)行檢測。方法簡單,能查找較明顯的局部泄漏。
(2)壓力下降法。用精密壓力表測量SF6氣體壓力,隔數(shù)天或數(shù)十天進(jìn)行復(fù)測,結(jié)合溫度換算或進(jìn)行橫向比較來判斷發(fā)生的壓力下降。
(3)分割定位法。適用于三相SF6氣路連通的斷路器,把SF6氣體系統(tǒng)分割成幾部分后再進(jìn)行檢漏,可減少盲目性。
(4)局部蓄積法,用塑料布將測量部位包扎,經(jīng)過數(shù)小時(shí)后,再用檢漏儀測量塑料布內(nèi)是否有泄漏的SF6氣體,它是目前較常采用的定性檢漏方法。
定量檢漏
定量檢漏法是用塑料袋將被測開關(guān)部件或整臺(tái)開關(guān)罩起來,經(jīng)過一定時(shí)間(例如數(shù)十小時(shí))后,測量塑料袋內(nèi)的SF6氣體濃度,再根據(jù)塑料袋內(nèi)體積和包圍時(shí)間等參數(shù)來計(jì)算漏氣率。
定量檢漏有掛瓶檢漏法和局部包扎法,應(yīng)在充氣24h后進(jìn)行。可采用LDD2000型檢漏儀作為定量測量儀,使用安全方便,比較理想。定量測量的判斷標(biāo)準(zhǔn)為年漏氣率不大于1%。
運(yùn)行實(shí)踐證明,SF6斷路器易漏部位主要有:各檢測口、焊縫、充氣嘴、法蘭結(jié)合面、壓力表連接管、密封底座等。而GIS設(shè)備的常見漏氣點(diǎn)有:焊縫、充氣嘴、法蘭結(jié)合面、壓力表。
光學(xué)成像檢漏
光學(xué)成像法是近年來興起的一項(xiàng)新技術(shù),比較成熟的方法有激光成像法和紅外成像法,二者都是利用SF6氣體的紅外吸收特性使泄漏氣體在視域內(nèi)清晰可見,能在設(shè)備帶電的情況下進(jìn)行檢測。
紅外成像法利用SF6氣體特定的紅外吸收光譜,能使泄漏氣體清晰可見,進(jìn)而可以在設(shè)備運(yùn)行的狀況下進(jìn)行檢漏,是一種較理想的檢漏手段。但在實(shí)際情況中由于GIS設(shè)備安裝特點(diǎn),導(dǎo)致光學(xué)成像法也存在一定的缺點(diǎn)。例如由于室內(nèi)GIS設(shè)備安裝較為緊湊,對(duì)內(nèi)部的檢漏較為困難。對(duì)于室外GIS設(shè)備,由于安裝高度較高,也使得對(duì)設(shè)備頂部、邊沿或隱蔽的地方檢漏較為困難,加上室外風(fēng)速、溫濕度等環(huán)境因素的影響,一些存在輕微滲漏的GIS設(shè)備就更難以用光學(xué)成像法檢測出來。
  出現(xiàn)漏氣處理方式,其一,更換配件,更換密封、盆子、螺栓。第二利用青島宇科公司專業(yè)SF6修復(fù)產(chǎn)品進(jìn)行在線帶壓修復(fù),可以在盆子開裂、密封損壞、殼體裂紋砂眼等情況下,直接進(jìn)行修復(fù),宇科公司EGG修復(fù)系列為雙組份配比使用材料,具有優(yōu)良的粘接力及高分子特有的退讓性,可以適應(yīng)大范圍溫差變化,修復(fù)后可以漏氣點(diǎn)形成致密結(jié)實(shí)的修復(fù)層使用壽命可達(dá)10年,是一種成熟的修復(fù)技術(shù),F(xiàn)已廣泛用在GIS、GIL,電流互感器、斷路器等。

 

 

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